典型文献
基于LK8810平台的集成电路电参数测试方法设计与实现
文献摘要：
阐述以LK8810作为测试平台,以74HC595为例,采用施加电流激励以测量电压的方法,为提高测量精度,输出采用开尔文连接的方式,根据所搭建的测量电路,利用测试专用函数编写程序实现对芯片输出高低电平上下限电参数的测试,测试结果可在上位机上显示.实验表明,该测试方案准确可靠,易于实施,可为数字芯片性能判断和缺陷分析提供可靠的数据依据.
文献关键词：
集成电路;LK8810平台;数字芯片;直流参数测试
中图分类号：
作者姓名：
罗瑜;樊赫
作者机构：
陕西工业职业技术学院电气工程学院,陕西 712000;西北机电工程研究所,陕西 712099
文献出处：
引用格式：
[1]罗瑜;樊赫-.基于LK8810平台的集成电路电参数测试方法设计与实现)[J].集成电路应用,2022(02):35-37
A类：
LK8810,直流参数测试
B类：
集成电路,电参数测试,测试方法设计,测试平台,74HC595,加电,电流激励,测量精度,开尔文,测量电路,编写程序,程序实现,低电平,下限,限电,上位机,测试方案,数字芯片,缺陷分析
AB值：
0.416835
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