典型文献
一种应用于高边驱动芯片的负载开路检测电路设计
文献摘要：
本文基于SOI工艺,设计优化了一种应用于高边驱动芯片的负载开路检测电路.针对传统检测方法消耗冗余电压降和检测误差大的问题,本电路使用双重判决模式加以解决;针对传统电路存在信号干扰引起的振荡及开关管开关损耗的问题,本电路使用滞回比较器加以解决,提高了负载开路检测的精度、有效性和可靠度.仿真结果表明,该电路可实现低阈值高精度电流检测,当设定的检测电流阈值为3mA时,电流检测精度高达98.5％;此外实现2V的抗干扰冗余电压,能够保证芯片正常运行.
文献关键词：
智能功率集成电路;高边驱动电路;负载开路检测;高精度;低阈值
中图分类号：
作者姓名：
鲁怀贤
作者机构：
合肥工业大学 微电子学院,安徽合肥,230009;合肥仙湖半导体科技有限公司,安徽合肥,230061
文献出处：
引用格式：
[1]鲁怀贤-.一种应用于高边驱动芯片的负载开路检测电路设计)[J].电子制作,2022(15):52-54,100
A类：
负载开路检测,开路检测,智能功率集成电路
B类：
驱动芯片,检测电路,电路设计,SOI,余电,电压降,检测误差,判决,加以解决,信号干扰,开关损耗,比较器,可靠度,低阈值,电流检测,3mA,检测精度,2V,高边驱动电路
AB值：
0.256063
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