典型文献
一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用
文献摘要：
针对电池保护芯片的传统测试方法的缺点和测试需求,文中基于ACCOTEST STS8200测试平台,设计一种用于电池保护芯片的自动测试方案.首先分析电池保护芯片的过充、过放、过流及过温等功能测试需求,给出测试电路;然后针对芯片的各项关键指标依次设计测试程序,并提出一种基于可编程控制的OTP Trimming算法;最后,设计测试板并在测试机上进行测试验证.文中提出的测试方案采用软件菜单选项和野口转接板设计方法,可大大缩短芯片测试的开发周期.结果表明,在测试31631颗芯片后,芯片的测试良率为99.35％,且Trimming后数据的均值为2254 mV,标准差为1.766.说明文中测试方案有效且可靠性较高,达到了可编程控制的灵活性要求.
文献关键词：
模拟芯片;自动测试方法;OTP Trimming技术;芯片功能测试;测试板设计;测试验证
中图分类号：
作者姓名：
李演明;黄晟睿;邓新安;张春红;沈宇衡
作者机构：
长安大学 电子与控制工程学院,陕西 西安 710064
文献出处：
引用格式：
[1]李演明;黄晟睿;邓新安;张春红;沈宇衡-.一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用)[J].现代电子技术,2022(08):29-34
A类：
ACCOTEST,STS8200,Trimming,测试板设计
B类：
程式,模拟芯片,自动测试方法,统测,测试需求,测试平台,测试方案,过充,过放,过流,测试电路,关键指标,计测,测试程序,可编程控制,OTP,试机,测试验证,菜单,单选,选项,野口,转接板,大大缩短,芯片测试,开发周期,良率,mV,说明文,芯片功能测试
AB值：
0.368159
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