典型文献
基于SSD控制器芯片测试平台转移及测试向量转换的方法
文献摘要：
随着集成电路测试成本的提高,将芯片从高性能的自动化测试设备(Automation Test Equipment,ATE)向低一级ATE进行转移可以节省相应的测试成本.测试平台转换过程中涉及测试程序的开发和测试向量的转换,将两个测试平台得到的测试数据进行比对,验证了转换后测试程序的有效性与准确性.基于一款高性能的28 nm固态存储硬盘(Solid State Drive,SSD)控制器,测试平台从爱德万(Advantest)的V93K转移至泰瑞达(Teradyne)的J750,同时使用Python脚本进行向量转换和测试数据的比对分析,达到了降低芯片测试成本的目的.
文献关键词：
ATE转移;测试向量转换;测试数据分析
中图分类号：
作者姓名：
冯文星;余山;周萌;柳炯
作者机构：
赛迪工业和信息化研究院集团有限公司,江苏苏州 215104
文献出处：
引用格式：
[1]冯文星;余山;周萌;柳炯-.基于SSD控制器芯片测试平台转移及测试向量转换的方法)[J].电子与封装,2022(05):23-30
A类：
芯片测试平台,测试向量转换,Advantest,V93K,Teradyne
B类：
SSD,集成电路测试,试成,自动化测试,测试设备,Automation,Test,Equipment,ATE,平台转换,转换过程,测试程序,后测,固态,硬盘,Solid,State,Drive,爱德,移至,J750,Python,脚本,行向量,比对分析,测试数据分析
AB值：
0.358567
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