典型文献
基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术
文献摘要：
微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程、低功耗等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统.MCU芯片在线测试是保证产品质量的重要技术手段,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU芯片在线测试的难点.针对一款32位高性能MCU芯片,基于J750Ex-HD型集成电路ATE测试系统开展了 MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了 MCU芯片内部的POR/PDR、GPIO、ADC、Trimming、存储器等功能模块的功能性验证方法.按照MCU在线测试方法流程,设计制作了 MCU芯片测试适配器,开发了基于VBT编程的芯片测试程序,实现了批量MCU芯片的在线测试.
文献关键词：
微控制单元;ATE测试系统;功能测试;修调测试;ADC测试
中图分类号：
作者姓名：
余永涛;王小强;余俊杰;陈煜海;罗军
作者机构：
工业和信息化部电子第五研究所,广州 511300
文献出处：
引用格式：
[1]余永涛;王小强;余俊杰;陈煜海;罗军-.基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术)[J].电子与封装,2022(03):35-40
A类：
J750Ex,Trimming,修调测试
B类：
HD,MCU,在线测试,测试技术,微控制器,Microcontroller,Unit,可编程,低功耗,信号处理,嵌入式系统,高效测试,集成电路,ATE,测试系统,细说,POR,PDR,GPIO,ADC,存储器,功能模块,验证方法,方法流程,设计制作,芯片测试,测试适配器,VBT,测试程序,微控制单元,功能测试
AB值：
0.373019
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