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浅析ATE的TMU和参数扫描测试方法
文献摘要：
随着科学技术的快速发展,经济社会已进入大数据时代,集成电路都朝着高速高精度方向发展,进而对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求.使用分立的设备测试电路,操作复杂,测试时间长,显然已经不能满足当前的测试需求.自动测试设备(Automatic Test Equipment,简称ATE)可同时提供数字、模拟和射频测试资源,有广泛的硬件和软件支持,在集成电路测试方面具有很大的优势.本文系统的介绍了 ATE的时间测量单位(TMU)和参数扫描两种测试方法的原理,对比了两种测试方法的优缺点,并使用这两种方法对时钟电路的电参数进行了测试,对测试结果进行了简单对比.
文献关键词：
ATE;TMU;参数扫描
中图分类号：
作者姓名：
孙宇凯;刘鹏;王君从;王尧
作者机构：
中华通信系统有限责任公司河北分公司
文献出处：
引用格式：
[1]孙宇凯;刘鹏;王君从;王尧-.浅析ATE的TMU和参数扫描测试方法)[J].中国集成电路,2022(06):85-89
A类：
TMU
B类：
ATE,参数扫描,高速高精度,分立,设备测试,测试电路,测试时间,测试需求,自动测试设备,Automatic,Test,Equipment,测试资源,集成电路测试,时间测量,时钟电路,电参数
AB值：
0.345439
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