典型文献
高可靠集成电路典型失效模式类型与原因分析
文献摘要：
鉴于高可靠集成电路在现代信息化电子设备应用领域的关键地位,为了保证高可靠集成电路充分发挥其特点、降低失效率,对高可靠集成电路典型失效模式类型进行研究.从集成电路选用、二次筛选、失效分析、破坏性物理分析等方面介绍高可靠集成电路的筛选、考核方式.以实际研究工作中遇到的引线键合失效及各种材料缺陷为例,详细讨论典型的失效模式,并以寿命浴盆曲线、老炼试验、分析程序、各类图表等工具加以分析,提出相应的解决方案.
文献关键词：
高可靠集成电路;二次筛选;失效分析;破坏性物理分析;失效模式
中图分类号：
作者姓名：
郝思萍;崔诗瑶
作者机构：
中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110000
文献出处：
引用格式：
[1]郝思萍;崔诗瑶-.高可靠集成电路典型失效模式类型与原因分析)[J].微处理机,2022(04):34-37
A类：
B类：
高可靠集成电路,失效模式,模式类型,现代信息化,电子设备,设备应用,关键地位,失效率,二次筛选,失效分析,破坏性物理分析,考核方式,实际研究,引线键合,材料缺陷,浴盆曲线,老炼,分析程序,图表,加以分析
AB值：
0.310971
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