典型文献
集成电路器件的检测与失效分析
文献摘要：
阐述集成电路在检测过程的特点,造成集成电路失效的几种形式,探讨电参数特性分析、失效分析的流程,精准定位每一失效产品的实际故障问题,从而制定针对性的解决策略.
文献关键词：
集成电路;失效分析;电参数特性
中图分类号：
作者姓名：
王龙
作者机构：
甘肃省定西市临洮县职业技术教育中心,甘肃 730500
文献出处：
引用格式：
[1]王龙-.集成电路器件的检测与失效分析)[J].集成电路应用,2022(02):38-39
A类：
电参数特性
B类：
集成电路,失效分析,检测过程,精准定位,故障问题,解决策略
AB值：
0.158433
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