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基于金手指连接的老炼方式研究
文献摘要：
随着集成电路的飞速发展,电路功能越来越强大,而老炼试验作为集成电路筛选试验中的关键环节,老炼试验的覆盖率和可靠性直接决定集成电路筛选质量.该文通过结合传统连接方式和金手指连接方式的老炼试验数据的对比,推出可实现更高覆盖率和更高老炼质量的老炼方式.
文献关键词：
老炼;金手指;可靠性
中图分类号：
作者姓名：
姜汝栋;陈光耀
作者机构：
中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
文献出处：
引用格式：
[1]姜汝栋;陈光耀-.基于金手指连接的老炼方式研究)[J].电子质量,2022(08):72-74
A类：
B类：
金手指,老炼,方式研究,集成电路,筛选试验,连接方式,高覆盖
AB值：
0.208856
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