典型文献
微波单片集成电路测试技术研究
文献摘要：
单片机集成环境主要应用于无线通信、雷达、电子测量等行业,近年来随着设备的发展,对机器的需求增加,对可靠性的要求也提高了.单片有源微波项目在国内尚处于起步阶段,没有相关的方法[1].为了防止这种情况,该文通过测量有源损耗、1 dB压缩点、单组件侧分贝和放大器以及射频开关等关键参数来探索有源单片集成设备和微波测试技术.
文献关键词：
MMIC;微波参数测试;元器件可靠性;微波测试夹具
中图分类号：
作者姓名：
黄方祥
作者机构：
中航电光有限公司,河南洛阳471000
文献出处：
引用格式：
[1]黄方祥-.微波单片集成电路测试技术研究)[J].电子质量,2022(04):30-32
A类：
微波参数测试,微波测试夹具
B类：
微波单片集成电路,集成电路测试,测试技术,单片机,成环,主要应用,无线通信,电子测量,需求增,有源,dB,分贝,放大器,射频开关,集成设备,MMIC,元器件可靠性
AB值：
0.309587
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