典型文献
双电层氧化锌薄膜晶体管偏压应力稳定性
文献摘要：
以环保可降解的天然生物材料制备功能器件越来越受到关注,利用天然鸡蛋清作为栅介质层,采用射频磁控溅射法在其上沉积ZnO薄膜有源层,制备低压双电层氧化锌基薄膜晶体管(ZnO-TFT)并对其电学特性进行了表征,研究了器件在栅偏压和漏偏压应力下电性能的稳定性及其内在的物理机制.该ZnO-TFT器件呈现出良好的电特性,载流子饱和迁移率为5.99 cm2/(V·s),阈值电压为2.18 V,亚阈值摆幅为0.57 V/dec,开关电流比为1.2×105,工作电压低至3 V.研究表明,在偏压应力作用下,该ZnO-TFT器件电性能存在一定的不稳定性,我们认为栅偏压应力引起的电性能变化可能来源于栅介质附近及界面处的正电荷聚集、充放电效应和新陷阱态的复合效应;漏偏压应力引起的电性能变化可能来源于焦耳热引起的氧空位及沟道中的电子陷阱.
文献关键词：
薄膜晶体管;氧化锌;双电层;偏压应力;稳定性
中图分类号：
作者姓名：
王聪;刘玉荣;彭强;黄荷
作者机构：
汕尾职业技术学院 海洋学院, 广东 汕尾 516600;汕尾市海洋产业研究院 新能源材料与催化工程研究中心, 广东 汕尾 516600;华南理工大学 微电子学院, 广东 广州 510640
文献出处：
引用格式：
[1]王聪;刘玉荣;彭强;黄荷-.双电层氧化锌薄膜晶体管偏压应力稳定性)[J].发光学报,2022(01):129-136
A类：
偏压应力
B类：
双电层,氧化锌薄膜,薄膜晶体管,应力稳定,可降解,天然生物材料,材料制备,功能器件,鸡蛋清,栅介质,射频磁控溅射,磁控溅射法,ZnO,有源,TFT,电学特性,电性能,物理机制,电特性,载流子,迁移率,阈值电压,亚阈值摆幅,dec,开关电流比,工作电压,压低,压应力作用,性能变化,能来,正电荷,充放电效应,陷阱,复合效应,焦耳热,氧空位,沟道
AB值：
0.329903
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