典型文献
FPGA多程序动态老炼系统设计
文献摘要：
老炼试验可以加速FPGA老化,使FPGA快速进入失效率较低且稳定的偶然失效期,是剔除存在潜在缺陷FPGA电路的重要方法.但是随着FPGA的规模越来越大,传统的单段程序动态老炼无法实现FPGA大部分资源的逻辑翻转,电路潜在缺陷部位无法及时暴露,可能导致缺陷电路异常流出.针对单段程序动态老炼的局限性,设计了一种可循环写入多段老炼程序的多程序动态老炼硬件系统,同时针对该老炼系统开发了 FPGA老炼程序,可显著提高FPGA的老炼覆盖率.
文献关键词：
老炼;FPGA;多程序;覆盖率
中图分类号：
作者姓名：
季振凯;谢文虎
作者机构：
无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡 214072
文献出处：
引用格式：
[1]季振凯;谢文虎-.FPGA多程序动态老炼系统设计)[J].电子与封装,2022(04):68-72
A类：
B类：
FPGA,多程序,老炼,失效率,偶然,效期,潜在缺陷,段程序,常流,可循环,写入,多段,硬件系统,时针,系统开发
AB值：
0.258664
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