典型文献
1700V Primepack IGBT短路栅极振荡试验与分析
文献摘要：
阐述一类短路过程中发生的栅极振荡,该振荡属于射频振荡的一种,这种振荡会导致IGBT短路失效,通过理论分析射频振荡机理,确定振荡原因及能量流通路径,调整不同的栅极封装参数,确认对短路性能的影响,最终通过封装改进并进行了大量试验验证解决了栅极振荡问题.
文献关键词：
栅极振荡;一类短路;短路特性
中图分类号：
作者姓名：
王禹;陈子墨;花清源;董志意
作者机构：
南瑞集团有限公司(国网电力科学研究院有限公司),江苏 211106;南瑞联研半导体有限责任公司,江苏 211100
文献出处：
引用格式：
[1]王禹;陈子墨;花清源;董志意-.1700V Primepack IGBT短路栅极振荡试验与分析)[J].集成电路应用,2022(06):24-27
A类：
1700V,Primepack,栅极振荡,一类短路
B类：
IGBT,振荡试验,试验与分析,短路过程,短路失效,振荡机理,能量流,封装,短路特性
AB值：
0.242653
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