典型文献
一种9端口微波多功能收发芯片在片测试技术
文献摘要：
多功能芯片由单入单出单通道升级为多入多出多通道收发芯片,并大量应用于现代通信领域.针对多收发通道多功能芯片测试过程中,多次移动探针、重复压针、无法自动测量、测试效率低等不足,研究了多端口在片校准技术.通过去嵌入校准方法,将校准面移到探针尖端,实现了多端口微波探针在片精确校准.提出了一次压针测试多端口芯片各项参数的方法,利用定制的集成多端口共面探针,搭建了一次压针全通道测试系统,通过软件控制开关矩阵,完成多端口信号传输及数据采集,实现一次压针全通道测试.并与传统测试方法的测试数据进行对比分析,证明了该方法的可行性.
文献关键词：
多功能芯片;多通道;共面探针;去嵌入;S参数
中图分类号：
作者姓名：
陈兴;樊渝;李梦琪
作者机构：
中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄 050051
文献出处：
引用格式：
[1]陈兴;樊渝;李梦琪-.一种9端口微波多功能收发芯片在片测试技术)[J].半导体技术,2022(04):332-335
A类：
多功能收发芯片,共面探针
B类：
波多,在片测试,测试技术,多功能芯片,单通道,多入多出,多通道,现代通信,通信领域,芯片测试,试过,复压,自动测量,测试效率,多端口,校准技术,去嵌入,入校,校准方法,将校,针尖,尖端,精确校准,全通道,通道测试,测试系统,软件控制,控制开关,开关矩阵,口信,信号传输,统测,测试数据
AB值：
0.39736
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