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基于ATE的微控制器测试方法研究
文献摘要：
微控制器具有体积小、质量轻、功耗低以及使用方便等特点,被广泛应用于嵌入式电路设计中.在电路中,微控制器能否正常工作,将直接影响整个电路工作状态是否稳定.为了提高电路的可靠性,对微控制器进行筛选测试是十分必要的.本文基于ATE设备,阐述了一款微控制器的测试方法.文章从ATE设备原理和微控制器的测试方法(连接性、功能、直流参数)进行探讨,并对微控制器进行了测试性验证.实验结果进一步表明了合理的测试方法对测试稳定性和测试有效性的重要性.
文献关键词：
微控制器;ATE;测试
中图分类号：
作者姓名：
吴宏丽
作者机构：
天津航空机电有限公司
文献出处：
引用格式：
[1]吴宏丽-.基于ATE的微控制器测试方法研究)[J].中国集成电路,2022(12):90-95
A类：
B类：
ATE,微控制器,测试方法研究,体积小,功耗,使用方便,电路设计,工作状态,设备原理,连接性,测试性
AB值：
0.271158
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