典型文献
一类数字电位器的快速测试方法研究
文献摘要：
该文研究了一类多通道数字电位器的主要功能和关键参数的测试方法,适用于含SPI或者I2C通讯模式的数字电位器ATE测试程序的快速开发.基于自动化测试设备设计了一种双通讯协议多通道的数字电位器的功能及参数测试方法.以DS1844-X为例,用EXCEL构造了稳定的测试向量自动生成平台,设计了多通道并行测试的程序,优化测试程序测试时间.
文献关键词：
数字电位器;多通道;双通讯协议;自动化测试
中图分类号：
作者姓名：
沈锺杰
作者机构：
中国电子科技集团第五十八研究所,江苏无锡214122
文献出处：
引用格式：
[1]沈锺杰-.一类数字电位器的快速测试方法研究)[J].电子质量,2022(08):57-64
A类：
双通讯协议,DS1844
B类：
数字电位器,快速测试,测试方法研究,多通道,通道数,主要功能,SPI,I2C,ATE,测试程序,快速开发,自动化测试,测试设备,设备设计,参数测试,EXCEL,测试向量,自动生成,成平,并行测试,程序测试,测试时间
AB值：
0.342578
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