典型文献
基于LK8810S平台的数字集成电路测试
文献摘要：
阐述基于LK8810S平台的数字集成电路测试技术,它对典型数字芯片74HC595测试,包括开路、短路、直流参数、逻辑功能进行测试,测试结果表明,此测试方案准确有效.
文献关键词：
集成电路测试;逻辑功能测试;静态电流测试
中图分类号：
作者姓名：
陈梅芬;陈瑞森;李伟权;吴沁
作者机构：
厦门海洋职业技术学院,福建 361100
文献出处：
引用格式：
[1]陈梅芬;陈瑞森;李伟权;吴沁-.基于LK8810S平台的数字集成电路测试)[J].集成电路应用,2022(06):41-43
A类：
LK8810S,逻辑功能测试,静态电流测试
B类：
数字集,集成电路测试,测试技术,数字芯片,74HC595,开路,短路,测试方案,确有
AB值：
0.210795
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