典型文献
一种集成电路防反插测试技术
文献摘要：
阐述一种集成电路防反插测试技术,该技术通过检测集成电路引脚之间的阻抗来判断集成电路的插装状态.根据对集成电路插装状态的检测结果,自动控制是否对集成电路加电测试.
文献关键词：
集成电路测试;反插检测;防反插测试;防反插加电
中图分类号：
作者姓名：
刘尊建;陈锋
作者机构：
华东光电集成器件研究所,安徽 233000
文献出处：
引用格式：
[1]刘尊建;陈锋-.一种集成电路防反插测试技术)[J].集成电路应用,2022(01):46-48
A类：
防反插测试,反插检测,防反插加电
B类：
测试技术,引脚,插装,自动控制,电测试,集成电路测试
AB值：
0.154006
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