典型文献
电子测试系统的硬件通用设计
文献摘要：
在电子产品多品种、小批量的背景下,给所有产品逐一构建测试环境,不仅不经济、而且研制生产进度也不允许.构建一种通用的测试设备就成了研究的重点.本文探讨测试系统中数字板卡的通用设计.
文献关键词：
通用测试;FPGA;微波测试
中图分类号：
作者姓名：
刘飞
作者机构：
中国电子科技集团第29所,四川成都,611731
文献出处：
引用格式：
[1]刘飞-.电子测试系统的硬件通用设计)[J].电子测试,2022(02):24-25
A类：
B类：
电子测试,测试系统,通用设计,电子产品,多品种,小批量,测试环境,不经,测试设备,板卡,通用测试,FPGA,微波测试
AB值：
0.60009
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