典型文献
基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
文献摘要：
介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法.基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试.该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考.
文献关键词：
ATE;Chroma 3380P;USB PD;晶圆测试
中图分类号：
作者姓名：
唐彩彬
作者机构：
中科芯集成电路有限公司,江苏无锡 214072
文献出处：
引用格式：
[1]唐彩彬-.基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试)[J].电子与封装,2022(03):30-34
A类：
3380P
B类：
ATE,USB,快充,片晶,晶圆测试,功率传输,Power,Delivery,Chroma,测试系统,芯片测试,site,并行测试,外围电路,主要功能,性能参数,参数测试,通用测试,测试设计
AB值：
0.368243
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
