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印制板组件中氯离子腐蚀失效案例分析
文献摘要：
在印制板组件众多的失效中,氯离子所引发的腐蚀、电迁移等是最为常见的失效模式.深度剖析了两个由氯离子引起电路板失效的典型案例,阐述了案例背景、分析过程、失效原因和失效机理,并提出了实际可行的解决方法与改善建议,对提高产品可靠性有一定的参考价值.
文献关键词：
印制板组件;氯离子;失效分析;短路;打火;改善建议
中图分类号：
作者姓名：
张培强;甘吉松;唐雁煌;张莹洁;朱刚;刘子莲
作者机构：
工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 511370
文献出处：
引用格式：
[1]张培强;甘吉松;唐雁煌;张莹洁;朱刚;刘子莲-.印制板组件中氯离子腐蚀失效案例分析)[J].电子产品可靠性与环境试验,2022(04):35-40
A类：
B类：
印制板组件,氯离子腐蚀,腐蚀失效,失效案例,电迁移,失效模式,深度剖析,电路板,了案,失效原因,失效机理,改善建议,产品可靠性,失效分析,短路,打火
AB值：
0.367783
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