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低压差线性稳压器断路失效原因分析
文献摘要：
低压差线性稳压器(LDO)是一种重要的电源管理芯片,其可靠性关乎电子设备的稳定和安全.该文以某低压差线性稳压器经环境试验筛选后发生功能失效为案例,通过开封观察、断口形貌分析、材质分析、表面成分分析等手段,确定该稳压器的失效模式为键合丝断路,失效原因为导电胶的粘接界面受有机硅污染,导致晶片与底座在环境试验过程中发生脱离并拉断键合丝,并针对该案例提出改进建议.
文献关键词：
低压差线性稳压器;断路;导电胶;失效分析
中图分类号：
作者姓名：
王琳;黄彦霖;蔡志刚;赵鹏
作者机构：
工业和信息化部电子第五研究所,广东广州511370
文献出处：
引用格式：
[1]王琳;黄彦霖;蔡志刚;赵鹏-.低压差线性稳压器断路失效原因分析)[J].电子质量,2022(07):54-60,74
A类：
B类：
低压差线性稳压器,断路,失效原因分析,LDO,电源管理芯片,电子设备,环境试验,功能失效,开封,断口形貌,形貌分析,材质分析,表面成分,失效模式,键合丝,导电胶,粘接界面,受有,有机硅,晶片,底座,试验过程,拉断,该案,改进建议,失效分析
AB值：
0.334684
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