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高集成度微波组件加电前检测方法的研究
文献摘要：
高集成度微波组件具有生产难度大,过程问题多,返修成本高的特点,该文提出了高集成度微波组件加电前通用检测方法,并对检测后的产品进行了质量数据的统计与分析,验证了该方法的可靠性.
文献关键词：
检测方法;高集成度;微波组件
中图分类号：
作者姓名：
曹雪姣;陈恒佳;赵勇;吴光明;何子均
作者机构：
九研究所,四川成都610036
文献出处：
引用格式：
[1]曹雪姣;陈恒佳;赵勇;吴光明;何子均-.高集成度微波组件加电前检测方法的研究)[J].电子质量,2022(03):26-29
A类：
B类：
高集成度,微波组件,加电,返修,修成,质量数据,统计与分析
AB值：
0.220713
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