典型文献
基于卷积神经网络的雷达微波组件的故障诊断
文献摘要：
雷达微波组件作为复杂电子系统的典型代表,其电路密度高、制造工艺路线长、指标要求严苛,实际生产环节工艺问题引入的性能缺陷时有发生,因此微波组件生产过程中故障诊断至关重要.但诊断过程对调试、制造工艺方面工程经验依赖度较强,为降低人工依赖度、提升故障诊断效率及准确率,提出了基于卷积神经网络的雷达微波组件故障诊断方法,根据微波组件实际工艺流程,通过将缺陷故障记录信息分组、标准化、代码化,卷积处理,实现了雷达微波组件及套装模块智能诊断.诊断试验结果表明,雷达微波组件故障诊断准确率达到95％以上,套装件的诊断准确率达到86％以上,大幅度提升了诊断效率.
文献关键词：
卷积神经网络;故障诊断;雷达微波组件;故障模式标准化;智能故障诊断
中图分类号：
作者姓名：
袁坤;邓威;戴敏;邵子金
作者机构：
南京电子技术研究所,江苏 南京 210039
文献出处：
引用格式：
[1]袁坤;邓威;戴敏;邵子金-.基于卷积神经网络的雷达微波组件的故障诊断)[J].电子工艺技术,2022(04):219-222
A类：
雷达微波组件,故障模式标准化
B类：
电子系统,密度高,制造工艺,工艺路线,线长,指标要求,严苛,生产环节,问题引入,时有发生,诊断过程,依赖度,诊断效率,故障诊断方法,代码化,卷积处理,套装,智能诊断,诊断试验,故障诊断准确率,智能故障诊断
AB值：
0.213572
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