典型文献
IC封装装键缺陷检测系统的升级
文献摘要：
近年来,微电子制造业得到了快速发展,对集成电路(Integrated Circuit)的需求也逐日提升,IC封装表面质量的优劣将决定芯片品质,因此制造企业对IC封装表面质量检测要求也越加重视.但碍于国内相关技术发展起步晚,大多数企业对于IC封装表面的检测还停留在人工和半自动检测阶段,这些方式存在检测效率低下、检测结果不稳定等问题,难以满足自动化生产需求.机器视觉技术能够有效解决上述问题,但是这项技术还未广泛应用于IC封装检测行业,因此,基于HALCON软件平台的IC封装自动目检系统研究具有重要应用研究价值.HALCON是德国MVtec公司开发的一套完善的标准的机器视觉算法包.它拥有应用广泛的机器视觉集成开发环境,它节约了产品成本,缩短了软件开发周期——HALCON灵活的架构便于机器视觉和图像分析应用的快速开发.在欧洲以及日本的工业界已经是公认具有最佳效能的机器视觉软件.MVtec公司是一家全球领先的机器视觉软件制造商,其产品可用于所有要求苛刻的成像领域,如半导体行业、表面检测、自动化光学检测系统等领域.
文献关键词：
IC封装;外观检测;图像划分;模板匹配
中图分类号：
作者姓名：
姚建军
作者机构：
无锡华润华晶微电子有限公司
文献出处：
引用格式：
[1]姚建军-.IC封装装键缺陷检测系统的升级)[J].中国集成电路,2022(04):78-89
A类：
MVtec
B类：
IC,封装,装装,缺陷检测,微电子制造,电子制造业,集成电路,Integrated,Circuit,逐日,制造企业,表面质量检测,检测要求,越加,碍于,起步晚,半自动,自动检测,检测效率,自动化生产,机器视觉技术,检测行业,HALCON,软件平台,重要应用,机器视觉算法,集成开发环境,产品成本,软件开发,开发周期,和图像,图像分析,分析应用,快速开发,工业界,制造商,苛刻,半导体行业,表面检测,光学检测系统,外观检测,图像划分,模板匹配
AB值：
0.437667
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