典型文献
膜下芯片字符识别和包装成品质量检测
文献摘要：
半导体行业常用的卷带包装芯片检测方式多为人工目检,存在检测速度慢、主观性强的问题.提出了机器视觉技术替代方案,实现了覆膜下芯片的字符识别、印刷质量及芯片包装质量的实时检测.采用偏振光源有效抑制了覆膜反光,实现了膜下芯片的高质量图像采集;提出了MSER与深度学习结合的芯片字符OCR技术,兼顾了字符识别速度和识别准确度;同时提出了多组识别结果相互印证纠错的方法,保证了结果准确度;通过多图像训练得到高质量字符区域模板,并采用形态学区域比对的方式,有效地应对字符灰度和字体粗细在合理范围内的波动,提高了字符印刷质量检测的准确性,同时以模板匹配结果和区域拟合对芯片包装质量进行准确检测.通过试验对比了传统OCR和Paddle OCR以及MSER文本检测和Paddle OCR相结合的方式的识别结果,证明了所提方案可有效兼顾检测速度和识别准确率.
文献关键词：
膜下芯片;OCR;MSER;深度学习;质量检测
中图分类号：
作者姓名：
陈明扬;王文利;胡涛
作者机构：
重庆交通大学机电与车辆工程学院,重庆 400074;西安电子科技大学深圳研究院,广东 深圳 518000;深圳信息职业技术学院信息技术研究所,广东 深圳 518000
文献出处：
引用格式：
[1]陈明扬;王文利;胡涛-.膜下芯片字符识别和包装成品质量检测)[J].电子工艺技术,2022(05):266-270
A类：
膜下芯片
B类：
字符识别,装成,质量检测,半导体行业,芯片检测,检测方式,检测速度,速度慢,主观性,机器视觉技术,替代方案,覆膜,印刷质量,包装质量,实时检测,偏振光,光源,反光,质量图,图像采集,MSER,OCR,组识,纠错,多图像,图像训练,练得,学区,区域比对,灰度,字体,粗细,合理范围,模板匹配,试验对比,Paddle,文本检测,识别准确率
AB值：
0.411423
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