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一种数字电路单粒子翻转试验系统设计
文献摘要：
随着航空航天事业高速发展,抗辐射元器件的使用需求日益旺盛,作为抗辐射性能评估方法之一的单粒子翻转试验愈发体现出重要性.针对单粒子翻转试验条件的设定与优化,设计一种单粒子翻转试验系统.系统可适应绝大部分数字电路的试验需求,采用ARM与FPGA相结合的方式,使用独立设计的DB50分线装置,具备多路输入、多路输出、多路比较的功能.该试验系统驱动能力强、稳定性高,可更有效地进行各类数字电路单粒子翻转效应测试,有助于提高研究效率并缩短开发周期.
文献关键词：
单粒子翻转;抗辐射性能评价;数字电路测试
中图分类号：
作者姓名：
邢泽全
作者机构：
中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110000
文献出处：
引用格式：
[1]邢泽全-.一种数字电路单粒子翻转试验系统设计)[J].微处理机,2022(05):6-9
A类：
DB50,抗辐射性能评价,数字电路测试
B类：
单粒子翻转,试验系统设计,航空航天,航天事业,元器件,使用需求,旺盛,性能评估,试验条件,绝大部分,ARM,FPGA,分线,线装,多路输出,驱动能力,提高研究,开发周期
AB值：
0.203849
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