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雪崩光电二极管过剩噪声的测量和抑制方法
文献摘要：
雪崩光电二极管(APD)因为其高灵敏度和高增益带宽的优势已被广泛应用在高比特率、远程光纤通信系统中,而雪崩过程中产生的过剩噪声直接影响到APD的信噪比,因此,研究过剩噪声对APD性能的提升具有重要意义.目前,国内外测试雪崩光电二极管过剩噪声的方法主要有直接功率测量法和相敏探测法,本文对这两种测试方法和其优缺点进行了分析,并介绍了最新的改进测试思路.同时,还总结了降低过剩噪声的3种方法:选择低碰撞电离系数比的材料,降低倍增层厚度和采用APD碰撞电离工程来降低噪声.
文献关键词：
雪崩光电二极管;过剩噪声因子;相敏探测法;碰撞电离工程
中图分类号：
作者姓名：
李再波;李云雪;马旭;田亚芳;史衍丽
作者机构：
云南大学 物理与天文学院,云南 昆明 650091;云南大学 量子信息重点实验室,云南 昆明 650091;昆明理工大学 理学院,云南 昆明 650093
文献出处：
引用格式：
[1]李再波;李云雪;马旭;田亚芳;史衍丽-.雪崩光电二极管过剩噪声的测量和抑制方法)[J].红外技术,2022(04):343-350
A类：
相敏探测法,碰撞电离工程,过剩噪声因子
B类：
雪崩光电二极管,抑制方法,APD,高灵敏度,高增益,比特率,光纤通信系统,外测,功率测量,测量法,低倍,倍增,来降,低噪声
AB值：
0.192688
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