典型文献
基于破坏性物理分析的假冒翻新器件识别方法
文献摘要：
假冒翻新电子元器件大量存在于当前电子产品领域.基于破坏性物理分析技术,探讨了如何识别假冒翻新器件;阐述了利用外部目检、X射线检查、声学扫描显微镜检查和内部目检等技术手段识别假冒翻新器件的具体方法,以期为减少假冒翻新器件、提高产品的可靠性提供一定的指导.
文献关键词：
电子元器件;假冒翻新;破坏性物理分析
中图分类号：
作者姓名：
杨智帆;阳川;李凌博;胡波;兰楠
作者机构：
重庆赛宝工业技术研究院有限公司,重庆 401332;智能电子电器可靠性技术重庆市重点实验室,重庆 401332;工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 511370
文献出处：
引用格式：
[1]杨智帆;阳川;李凌博;胡波;兰楠-.基于破坏性物理分析的假冒翻新器件识别方法)[J].电子产品可靠性与环境试验,2022(04):47-51
A类：
假冒翻新
B类：
破坏性物理分析,电子元器件,电子产品,声学,扫描显微镜,显微镜检查,检查和,手段识别,具体方法
AB值：
0.173211
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