典型文献
元器件板级应用验证方法研究
文献摘要：
针对电子元器件板级应用场景复杂特点,提出板级应用验证的工作思路,构建板级应用验证流程,提出板级应用验证的难点,形成板级应用验证理论体系.
文献关键词：
应用验证;验证流程;理论体系
中图分类号：
作者姓名：
李圣德;席善斌;柳华光
作者机构：
中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051;国家半导体器件质量检验检测中心, 河北石家庄050051
文献出处：
引用格式：
[1]李圣德;席善斌;柳华光-.元器件板级应用验证方法研究)[J].电子质量,2022(08):25-27
A类：
B类：
板级,应用验证,验证方法,电子元器件,工作思路,验证流程
AB值：
0.227128
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