典型文献
电子元器件导线的断裂失效与原因分析
文献摘要：
某电子元器件在使用7年后发生断裂失效,采用拉伸试验机、显微硬度计、扫描电镜等手段对送检电子元器件机组中的导线进行断裂原因分析.结果表明,送检电子元器件的导线的材料强度满足GB/T 1179-2008《圆线同心绞架空导线》的规定要求;两部分断裂绞线均出现高温熔融断裂断口,二者应为匹配的断裂导线;铝绞线中有3根铝导线首先发生高温熔断,其余导线在拉应力下发生快速断裂.在实际应用过程中,应该加强对电子元器件机组中导线的短路保护,避免由于导线熔断而发生整体断裂失效的事故.
文献关键词：
整车舱;电子元器件;导线;断裂;失效原因
中图分类号：
作者姓名：
周晚
作者机构：
咸阳职业技术学院,西安 712000
文献出处：
引用格式：
[1]周晚-.电子元器件导线的断裂失效与原因分析)[J].环境技术,2022(03):27-32
A类：
绞架,整车舱
B类：
电子元器件,断裂失效,拉伸试验,试验机,显微硬度,硬度计,送检,材料强度,架空导线,高温熔融,断口,铝导线,熔断,拉应力,中导,短路保护,失效原因
AB值：
0.246693
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