典型文献
基于航空应用背景下电子元器件的结构分析技术研究
文献摘要：
结构分析技术是一种新颖且行之有效的电子元器件可靠性评估方法.通过对电子元器件的内部结构、工艺和材料的剖析,确认集成电路的版图设计能力、制造工艺控制水平及选用材料的性能,为电子元器件的固有可靠性的判断提供了重要依据.介绍了结构分析的一般流程,并将其应用于半导体器件型号为SNJ54HC04W的6通道反相器的结构分析中,最后给出综合评价和有关结构分析的几点建议.
文献关键词：
结构分析;电子元器件;应用验证;质量控制;芯片
中图分类号：
作者姓名：
张哲瑞;刘郡;袁宵;路浩天
作者机构：
中国航空综合技术研究所 北京100028
文献出处：
引用格式：
[1]张哲瑞;刘郡;袁宵;路浩天-.基于航空应用背景下电子元器件的结构分析技术研究)[J].航空标准化与质量,2022(02):46-51
A类：
SNJ54HC04W
B类：
航空应用,应用背景,电子元器件,元器件可靠性,可靠性评估,集成电路,版图设计,设计能力,制造工艺,工艺控制,控制水平,用材,固有可靠性,一般流程,半导体器件,反相器,几点建议,应用验证
AB值：
0.346562
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