典型文献
NiFe-YIG颗粒膜中铁磁共振线宽的角度依赖性
文献摘要：
给出了镍铁合金-钇铁石榴石(NiFe-YIG)颗粒薄膜铁磁共振的测量结果,目的是研究薄膜内部线宽展宽机制.通过射频磁控溅射法在硅衬底上制备了50 nm厚度的NiFe-YIG颗粒薄膜样品,主要进行了面外转角铁磁共振测试,结合吉尔伯特阻尼、双磁子散射(短程缺陷激发)和镶嵌效应(长程缺陷激发)的理论对线宽进行分离;可以发现,线宽和场角的数据与理论相符合.当YIG含量较低时,线宽主要由吉尔伯特阻尼和双磁子散射阻尼线宽组成;随着YIG含量增大,双磁子散射和镶嵌效应导致的线宽展宽效应随之增大,并且获得了有关基本参数及缺陷信息.
文献关键词：
颗粒膜;铁磁共振;吉尔伯特阻尼;双磁子散射;镶嵌效应
中图分类号：
作者姓名：
韩莹;郑博含;钟智勇
作者机构：
电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都 610054
文献出处：
引用格式：
[1]韩莹;郑博含;钟智勇-.NiFe-YIG颗粒膜中铁磁共振线宽的角度依赖性)[J].功能材料,2022(06):6130-6136
A类：
吉尔伯特阻尼,双磁子散射,镶嵌效应
B类：
NiFe,YIG,颗粒膜,中铁,铁磁共振线宽,角度依赖性,镍铁合金,钇铁石榴石,宽展,展宽,射频磁控溅射,磁控溅射法,硅衬底,面外,角铁,短程,长程,相符合,阻尼线,基本参数,缺陷信息
AB值：
0.232095
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