典型文献
一种基于扩展汉明码的动态纠错机制
文献摘要：
错误纠正码(Error Correction Code,ECC)是解决存储器数据出现一位或两位错误的有效手段,然而过于复杂的编码方式将降低读写性能.为解决该问题,提出了一种基于扩展汉明码的动态纠错机制.利用扩展汉明码的奇偶校验位对检错模块进行了优化,能够监测错误发生的频率,并可动态切换进行扩展汉明码校验与奇偶校验.运用Verilog硬件描述语言实现了该机制并进行了仿真分析.分析结果表明,使用该机制与使用扩展汉明码校验相比,能够有效降低路径延时与动态功耗.
文献关键词：
错误纠正码;动态纠错机制;扩展汉明码;路径延时;动态功耗
中图分类号：
作者姓名：
陈天培;吴校生;强小燕
作者机构：
上海交通大学微米/纳米加工技术国家级重点实验室,上海 200240;中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
文献出处：
引用格式：
[1]陈天培;吴校生;强小燕-.一种基于扩展汉明码的动态纠错机制)[J].电子与封装,2022(05):63-67
A类：
扩展汉明码,动态纠错机制,错误纠正码
B类：
Error,Correction,Code,ECC,存储器,位错,而过,编码方式,读写性能,奇偶校验,校验位,检错,动态切换,Verilog,硬件描述语言,言实,该机,路径延时,动态功耗
AB值：
0.22576
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