典型文献
基于失效物理的结构分析方法和实践
文献摘要：
电子元器件可靠性结构分析是评估元器件可靠性的重要方法之一,需要基于失效物理开展分析,其目的是通过分析能够在早期查明元器件的固有可靠性状况、工艺质量及潜在的失效机制,评判元器件的长期可靠性及其在特定工程要求下的适应性.以某型号接口电路为例,详细地论述了基于失效物理的可靠性结构分析的基本方法原则和技术实现的关键.
文献关键词：
可靠性;失效物理;可靠性结构分析;物理结构单元
中图分类号：
作者姓名：
田雨;芮二明;焦强;韩福禹;董岩磊;周宇;俞梅
作者机构：
中国航天标准化研究所,北京 100071
文献出处：
引用格式：
[1]田雨;芮二明;焦强;韩福禹;董岩磊;周宇;俞梅-.基于失效物理的结构分析方法和实践)[J].电子产品可靠性与环境试验,2022(02):76-82
A类：
可靠性结构分析,物理结构单元
B类：
失效物理,电子元器件,元器件可靠性,查明,固有可靠性,工艺质量,失效机制,接口电路,基本方法,方法原则
AB值：
0.241184
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