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片式钽电容短路失效故障分析及改进
文献摘要：
该文针对片式钽电容在实际生产和使用过程中短路失效故障率过高的问题,从元器件自身故障原理、使用工艺、电路板设计等方面进行深入分析,最终确定钽电容短路失效是钽电容自身缺陷与外界应力综合作用的结果,外界应力主要有焊接温度应力和反向电压冲击.针对以上原因,从钽电容自身质量、工艺、设计等方面进行改进,通过加严筛选、改手工焊、优化回流曲线等具体措施,有效控制了片式钽电容短路失效故障,保证了其可靠性,提高了钽电容使用质量.
文献关键词：
片式钽电容;短路失效;焊接温度应力;反向电压;加严筛选;可靠性
中图分类号：
作者姓名：
吴双;朱贺花;方辉
作者机构：
中国空空导弹研究院,河南洛阳471009;株洲宏达电子股份有限公司,湖南株洲412000
文献出处：
引用格式：
[1]吴双;朱贺花;方辉-.片式钽电容短路失效故障分析及改进)[J].电子质量,2022(09):37-40,54
A类：
片式钽电容,焊接温度应力,加严筛选
B类：
短路失效,故障分析,分析及改进,中短,故障率,元器件,身故,电路板,力主,反向电压,上原
AB值：
0.13234
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