典型文献
一种Xilinx FPGA有效配置位保护方法
文献摘要：
机载电子设备中广泛采用的静态随机存储器(Static Random Access Memory,SRAM)型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)易受到大气中子辐射的影响而发生单粒子翻转.为了提高抗干扰能力,针对SRAM型FP GA需要进行抗单粒子翻转防护,提出了一种Xilinx FP GA有效配置位的保护方法.该方法提取电路中的有效配置位,纠错电路检测到电路中发生单粒子翻转时,纠正有效配置位上发生的翻转.实验表明该方法可以有效保护Xilinx FP GA的有效配置位并提高了纠错电路的效率.
文献关键词：
机载电子设备;单粒子翻转(SEU);容错方法;有效配置位
中图分类号：
作者姓名：
王鹏;刘正清;田毅
作者机构：
中国民航大学 安全科学与工程学院,天津300300
文献出处：
引用格式：
[1]王鹏;刘正清;田毅-.一种Xilinx FPGA有效配置位保护方法)[J].电讯技术,2022(03):379-384
A类：
有效配置位
B类：
Xilinx,FPGA,保护方法,机载电子设备,静态随机存储器,Static,Random,Access,Memory,SRAM,现场可编程门阵列,Field,Programmable,Gate,Array,大气中子,中子辐射,单粒子翻转,高抗,抗干扰能力,纠错,电路检测,SEU,容错方法
AB值：
0.302421
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
