典型文献
三模冗余对SRAM型FPGA寄存器上电状态的影响分析
文献摘要：
SRAM型FPGA容易受到空间辐射环境引起的单粒子翻转效应影响,造成软件在轨故障进而影响任务成败,因此在空间应用时普遍采用三模冗余技术进行设计加固来提高软件可靠性.使用Xilinx TMRTool工具实现SRAM型FPGA的三模冗余是目前流行的三模冗余实现方式,该方式无需额外编写代码,简化了设计师的工作.分析了Xilinx TMRTool对软件网表文件的改变流程和机理,对比了三模冗余处理前后FPGA寄存器的不同布局布线结果,分析了三模冗余工具对寄存器置位和复位的影响,给出了以SRAM型FPGA为核心控制器的产品设计建议.
文献关键词：
FPGA;半锁结构;TMRTool;三模冗余;寄存器
中图分类号：
作者姓名：
马小霞;李园;贾露娟;郭睿
作者机构：
兰州空间技术物理研究所,兰州730000
文献出处：
引用格式：
[1]马小霞;李园;贾露娟;郭睿-.三模冗余对SRAM型FPGA寄存器上电状态的影响分析)[J].空间电子技术,2022(05):83-87,112
A类：
TMRTool,网表文件,半锁结构
B类：
三模冗余,SRAM,FPGA,寄存器,空间辐射环境,单粒子翻转,在轨故障,成败,空间应用,冗余技术,软件可靠性,Xilinx,余实,实现方式,代码,设计师,软件网,变流,冗余处理,布局布线,线结,复位,核心控制器,产品设计,设计建议
AB值：
0.342929
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