典型文献
基于激光注入的FPGA加密防护设计验证研究
文献摘要：
激光注入技术是评估安全芯片抗故障攻击能力的重要手段之一.本文详细分析了激光故障注入的原理及激光诱发现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)触发器结构故障的机制,提出了一种FPGA激光注入评测方法.分别采用随机和定点故障注入的方法,对基于FPGA实现的SM2算法的基点等数据进行了篡改,验证了防护设计的有效性.针对28 nm工艺的FPGA,激光能够实现指定字节的单比特故障注入,同时也能实现快速的高覆盖率随机故障注入,是一种精确和高效的安全芯片评测手段.
文献关键词：
激光;FPGA;故障注入;SM2;防护验证
中图分类号：
作者姓名：
蔡莹;朱翔;王舰;李昊远;韩建伟
作者机构：
中国科学院国家空间科学中心,北京100190;中国科学院大学,北京100049;中国科学院软件研究所,北京100190
文献出处：
引用格式：
[1]蔡莹;朱翔;王舰;李昊远;韩建伟-.基于激光注入的FPGA加密防护设计验证研究)[J].电子学报,2022(10):2381-2386
A类：
随机故障注入,防护验证
B类：
光注入,FPGA,加密防护,防护设计,设计验证,安全芯片,故障攻击,攻击能力,光诱,现场可编程门阵列,Field,Programmable,Gate,Array,触发器,结构故障,评测方法,随机和,SM2,基点,篡改,光能,字节,单比特,高覆盖
AB值：
0.383013
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