典型文献
使用EOF垂直基函数的像素基电离层层析重构
文献摘要：
在传统像素基电离层层析成像中,直接将每个格网内的电离层电子密度作为未知数进行反演,容易出现由于未知数数目庞大而导致反演效率下降的问题.通过利用国际参考电离层(IRI)模型提取经验正交函数(EOFs)作为垂直方向基函数,将每个高度剖面的EOF系数作为未知数,可以显著减少未知数的数目,结合乘法代数重构算法(MART)进行电离层电子密度的重构,有效提升了反演计算效率.通过模拟数据和实测数据对该算法的反演结果进行验证,并将反演结果与测高仪实测数据和传统MART算法进行比较,结果表明该算法可以更加高效、准确地反演区域电离层电子密度.
文献关键词：
电离层层析;电子密度;像素基;经验正交函数
中图分类号：
作者姓名：
范玉荣;符杰林;安涛;王俊义;林基明
作者机构：
桂林电子科技大学认知无线电与信息处理教育部重点实验室 广西 桂林541004;中国科学院上海天文台 上海200030;广西高校卫星导航与位置感知重点实验室 广西 桂林541004
文献出处：
引用格式：
[1]范玉荣;符杰林;安涛;王俊义;林基明-.使用EOF垂直基函数的像素基电离层层析重构)[J].计算机应用与软件,2022(03):102-107
A类：
像素基,EOFs,代数重构算法
B类：
基函数,层析重构,电离层层析成像,格网,网内,电离层电子密度,未知数,数数,IRI,取经,经验正交函数,垂直方向,MART,反演计算,计算效率,模拟数据,测高仪,区域电离层
AB值：
0.206822
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