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典型文献
基于检测技术控制集成电路的质量
文献摘要:
随着电子产品的高速发展,集成电路的种类和集成度不断提高,在整机和系统生产中的地位是显而易见的.但是由于受禁运、停产等多种因素影响,集采的购成电路质量参差不齐,并且假冒翻新集成电路在市场上不断出现,已严重影响到整机产品的可靠性.基于检验技术对其质量和可靠性的判别,可以有效识别假冒伪劣产品,全面控制集成电路的质量.
文献关键词:
外观特征分析;高温动态老化;可靠性测试;质量控制
作者姓名:
张小玲;张盼盼;王宁;韩鑫
作者机构:
西安市电子工程研究所基础二室, 西安 710100
文献出处:
引用格式:
[1]张小玲;张盼盼;王宁;韩鑫-.基于检测技术控制集成电路的质量)[J].数码设计,2022(18):97-99
A类:
假冒翻新,外观特征分析,高温动态老化
B类:
技术控制,集成电路,电子产品,集成度,整机,显而易见,禁运,停产,集采,新集,检验技术,质量和可靠性,假冒伪劣,伪劣产品,可靠性测试
AB值:
0.317029
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