典型文献
电子元器件用低介电常数聚酰亚胺研究进展
文献摘要：
本文主要分析近年来国内外低介电常数聚酰亚胺树脂及薄膜的专利概况,介绍近年来学术研究中出现的聚酰亚胺低介电常数改性方法及在电子元器件的应用研究进展,并展望低介电常数聚酰亚胺未来的发展趋势.
文献关键词：
聚酰亚胺;低介电常数;低介质损耗;微电子;5G通讯
中图分类号：
作者姓名：
门秀婷;李铭新
作者机构：
波米科技有限公司,山东 聊城 252300
文献出处：
引用格式：
[1]门秀婷;李铭新-.电子元器件用低介电常数聚酰亚胺研究进展)[J].绝缘材料,2022(12):10-19
A类：
低介质损耗
B类：
电子元器件,低介电常数,聚酰亚胺树脂,专利概况,改性方法,微电子
AB值：
0.128426
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