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基于前向光散射的水体悬浮颗粒物粒度双CMOS测量技术研究
文献摘要：
基于CMOS探测器的静态光散射法能够实现水体悬浮颗粒物粒度分布的快速检测,受探测器工作特性和面幅大小的限制,前向光散射的CMOS粒度测量范围和精度难以提高.提出了颗粒前向光散射的双CMOS测量技术,重点研究双CMOS散射信号拼接测量方法,设计消除背景干扰的CMOS探测器分环方式,实现宽粒径范围颗粒粒度的准确测量.实验结果表明:基于CMOS探测器的颗粒粒度测量上限提高到了 1000μm,1000μm、500μm标样的D50测量相对误差分别为0.7％、0.1％,大粒径颗粒粒度测量准确度高;同时双CMOS探测的方式将单CMOS的粒度测量下限由5μm提高到了 2μm,5μm、2μm标样D50相对误差分别由单CMOS的15.0％、51.1％下降至双CMOS的1.4％、2.6％.
文献关键词：
粒度测量;Mie散射理论;CMOS图像传感器;图像处理
中图分类号：
作者姓名：
漆艳菊;赵南京;张小玲;殷高方;石朝毅;石一鸣;刘灯奎;贾仁庆;储震
作者机构：
安徽大学物质科学与信息技术研究院安徽省信息材料与智能感知实验室,安徽合肥230601;中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室,安徽合肥230031;合肥学院,安徽合肥230601;中国科学技术大学环境科学与光电技术学院,安徽合肥230026
文献出处：
引用格式：
[1]漆艳菊;赵南京;张小玲;殷高方;石朝毅;石一鸣;刘灯奎;贾仁庆;储震-.基于前向光散射的水体悬浮颗粒物粒度双CMOS测量技术研究)[J].光学技术,2022(06):696-702
A类：
B类：
向光,悬浮颗粒物,CMOS,测量技术研究,探测器,静态光散射,光散射法,粒度分布,快速检测,工作特性,粒度测量,测量范围,散射信号,拼接,背景干扰,颗粒粒度,准确测量,D50,大粒径,测量准确度,测量下限,Mie,图像传感器
AB值：
0.281222
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