典型文献
基于全反射抑制串扰的双层结构高分辨闪烁屏
文献摘要：
在低能X射线成像中,荧光串扰是影响光纤耦合电荷耦合器件(CCD)/互补金属氧化物半导体(CMOS)型高分辨平板探测器空间分辨率的主要因素.基于界面全反射对荧光串扰的抑制作用,提出一种双层结构高分辨闪烁屏.双层闪烁层间通过低折射率耦合介质耦合,调节耦合介质折射率可控制上层闪烁屏与耦合介质界面间可输出的荧光角度,达到抑制荧光串扰、提升闪烁屏探测空间分辨率的目的.基于点扩散函数理论的仿真结果表明,与同等厚度的单层闪烁屏相比,所提双层结构闪烁屏可实现更高的空间分辨率.X射线成像实验结果进一步验证了应用双层结构闪烁屏对提升探测器空间分辨率的有效性.
文献关键词：
成像系统;双层结构;荧光串扰;折射率;空间分辨率;GAGG:Ce
中图分类号：
作者姓名：
安康;李汶芳;段晓礁;杜宇;周日峰;王珏
作者机构：
重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,重庆400044;工业CT无损检测教育部工程研究中心,重庆400044;中国工程物理研究院化工材料研究所,四川绵阳621000
文献出处：
引用格式：
[1]安康;李汶芳;段晓礁;杜宇;周日峰;王珏-.基于全反射抑制串扰的双层结构高分辨闪烁屏)[J].光学学报,2022(22):60-67
A类：
闪烁屏,荧光串扰
B类：
全反射,双层结构,光纤耦合,电荷耦合器件,CCD,互补金属氧化物半导体,CMOS,探测器,空间分辨率,耦合介质,介质折射率,达到抑制,点扩散函数,等厚度,成像系统,GAGG,Ce
AB值：
0.175879
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