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高精度X射线柱面弯晶检测方法
文献摘要：
以实验室中的X射线管作为光源,配合CMOS探测器涂层闪烁体纤维面板实时在线记录设备,建立了柱面弯晶检测平台.通过高精度的同轴转台设计,将整个柱面弯晶曲面转换为多个线段区间来分别进行检测,并对光路排布以及谱线的位置移动进行了解析计算.选用铁靶材X射线管(Kα特征谱线波长为0.193 6 nm)作为实验光源,曲率半径120 mm的石英柱面弯晶作为样品,实验获得了清晰的铁特征谱线(Fe-Kα和Fe-Kβ).通过分析柱面弯晶上9个采样位置的图像,发现Fe-Kα谱线位置移动了 96 μm,对应的半径偏差为40μm,AR/R为0.033％.经过检测的石英柱面弯晶已经在大型激光装置上应用,并获得高质量的光谱图像,证明了该实验方法对柱面弯晶品质检测的有效性.
文献关键词：
X射线衍射;柱面弯晶;高精度;特征谱线;CMOS探测器
中图分类号：
作者姓名：
韦敏习;尚万里;侯立飞;孙奥;车兴森;杨国洪
作者机构：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳621900
文献出处：
引用格式：
[1]韦敏习;尚万里;侯立飞;孙奥;车兴森;杨国洪-.高精度X射线柱面弯晶检测方法)[J].红外与激光工程,2022(10):168-172
A类：
柱面弯晶
B类：
射线管,光源,CMOS,探测器,闪烁体,维面,板实,实时在线,在线记录,检测平台,同轴,转台,线段,光路,排布,解析计算,靶材,特征谱线,线波,验光,曲率半径,石英,大型激光装置,光谱图像,实验方法,品质检测
AB值：
0.287424
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