典型文献
光纤耦合GAGG_Ce型X射线探测器高分辨成像
文献摘要：
闪烁屏信号串扰是影响X射线探测器空间分辨率的主要因素,基于点扩散函数理论对光纤耦合GAGG_Ce单晶闪烁屏型CCD/CMOS探测器的空间分辨率进行了研究.利用蒙特卡罗程序EGSnrc和光学仿真软件Zemax分别对GAGG_Ce单晶闪烁屏射线串扰和荧光串扰进行了仿真.仿真结果表明,对于低能X射线辐射成像,荧光串扰是影响探测器空间分辨率的最主要因素.此外,研究了通过降低光纤面板数值孔径以抑制荧光串扰的方法,得到了光纤面板数值孔径与探测器空间分辨率和X射线转换因子间的关系,并通过自制CCD探测器测试验证了仿真结果的正确性.
文献关键词：
成像系统;光纤成像;GAGG_Ce;数值孔径;串扰;空间分辨率;X射线转换因子
中图分类号：
作者姓名：
安康;李汶芳;段晓礁;吴石琳;周日峰;王珏
作者机构：
重庆大学光电工程学院光电技术及系统教育部重点实验室,重庆400044;工业CT无损检测教育部工程研究中心,重庆400044
文献出处：
引用格式：
[1]安康;李汶芳;段晓礁;吴石琳;周日峰;王珏-.光纤耦合GAGG_Ce型X射线探测器高分辨成像)[J].光学学报,2022(01):108-118
A类：
闪烁屏,荧光串扰,光纤成像
B类：
光纤耦合,GAGG,Ce,射线探测,探测器,高分辨成像,空间分辨率,点扩散函数,单晶,CCD,CMOS,蒙特卡罗程序,EGSnrc,光学仿真,Zemax,辐射成像,低光,数值孔径,转换因子,测试验证,成像系统
AB值：
0.230641
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
