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静态光散射法水体悬浮颗粒物粒度测量背景干扰消除方法
文献摘要：
静态光散射法能够实现水体悬浮颗粒物粒度分布的快速检测,但测量精度易受背景干扰.传统的样品散射光减背景光方法无法有效消除背景干扰.提出了基于散射光基线的背景干扰消除方法,在样品散射光减去背景干扰的基础上,拟合出散射光强分布基线,进一步消除背景的干扰.120 μm及9.86 μm标准粒径样品的测量结果表明,相较于传统方法,120 μm样品的D10、D50以及D90的测量相对误差分别由56.9％、17.2％、8.1％下降到0.4％、0.8％、2.8％;9.86 μm样品的D10、D50以及D90的测量相对误差分别由17.2％、10.0％、0.1％变到11.6％、3.4％、0.1％.表明基线法能够大幅提升背景干扰的去除效果,提高颗粒物粒度测量的准确性.
文献关键词：
测量;背景干扰;悬浮颗粒物;粒度测量;CMOS探测器
中图分类号：
作者姓名：
石一鸣;殷高方;赵南京;石朝毅;贾仁庆;马明俊;刘灯奎;漆艳菊;夏蒙;甘婷婷;杨瑞芳
作者机构：
中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室,安徽合肥230031;合肥学院生物食品与环境学院,安徽合肥230601;合肥学院先进制造工程学院,安徽合肥230601;中国科学技术大学环境科学与光电技术学院,安徽合肥230026;安徽大学物质科学与信息技术研究院,安徽合肥230601
文献出处：
引用格式：
[1]石一鸣;殷高方;赵南京;石朝毅;贾仁庆;马明俊;刘灯奎;漆艳菊;夏蒙;甘婷婷;杨瑞芳-.静态光散射法水体悬浮颗粒物粒度测量背景干扰消除方法)[J].中国激光,2022(07):63-69
A类：
B类：
静态光散射,光散射法,悬浮颗粒物,粒度测量,背景干扰,干扰消除,消除方法,粒度分布,快速检测,测量精度,散射光,背景光,减去,合出,光强分布,D10,D50,D90,变到,去除效果,CMOS,探测器
AB值：
0.283702
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