典型文献
CRH5型动车组用IGBT器件寿命评估
文献摘要：
半实物仿真计算结果表明,CRH5型动车组四象限整流侧IGBT器件寿命大于逆变侧.典型线路计算时,器件最小寿命约为780万km;进行寿命相关的测试表明,与全新同型号IGBT器件相比,运行480万km的IGBT器件芯片及DBC焊层超声波扫描未出现分层现象;饱和压降及键合点推力测试表明,键合线根部已经出现裂纹,饱和压降平均值比全新器件增加0.196％,IGBT芯片键合线推力均值由全新的2 800 g降低到2 400 g,FRD芯片键合线推力均值由全新的2 800 g降低到2 600 g及2 300 g,退化后的测试电学参数均在额定值以内,未达到寿命失效标准.
文献关键词：
CRH5型动车组;IGBT器件寿命;饱和压降;焊层超声波扫描;键合点推拉力
中图分类号：
作者姓名：
高永军;曹林;叶娜;李萍;吴磊;蒲红萍
作者机构：
中车永济电机有限公司技术中心,山西永济044502;西安理工大学 自动化学院,陕西西安710048
文献出处：
引用格式：
[1]高永军;曹林;叶娜;李萍;吴磊;蒲红萍-.CRH5型动车组用IGBT器件寿命评估)[J].铁道机车与动车,2022(12):36-38
A类：
焊层超声波扫描,键合点推力,键合点推拉力
B类：
CRH5,动车组,IGBT,寿命评估,半实物仿真,仿真计算,四象限,整流侧,逆变侧,型线,命相,测试表明,同型号,器件芯片,DBC,分层现象,饱和压降,推力测试,键合线,根部,FRD,电学参数,参数均,额定值,效标
AB值：
0.307276
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