典型文献
基于Labview的四探针法和卡文迪许扭秤测量半导体薄层电阻综合性实验设计
文献摘要：
设计了"基于四探针法和卡文迪许扭秤"测量半导体薄层电阻(或电阻率)的实验装置,该装置可通过"扭秤"完成微小电流(或电压)的测量,继而通过相关公式,得到待测样品的电阻(或电阻率).为了实现测量的自动化,该装置采用Labview编程.
文献关键词：
四探针;卡文迪许扭秤;Labview
中图分类号：
作者姓名：
黄林;丁晓夏;韩凌云;唐一文
作者机构：
华中师范大学物理科学与技术学院,湖北武汉 430079
文献出处：
引用格式：
[1]黄林;丁晓夏;韩凌云;唐一文-.基于Labview的四探针法和卡文迪许扭秤测量半导体薄层电阻综合性实验设计)[J].大学物理实验,2022(01):74-78
A类：
卡文迪许,卡文迪许扭秤
B类：
Labview,四探针法,薄层,综合性实验设计,电阻率,实验装置,微小电流,关公
AB值：
0.153914
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