典型文献
FPGA内部资源测试探讨
文献摘要：
FPGA功能的稳定与可靠对于其应用至关重要.根据FPGA内部结构特点将其分为可配置逻辑模块、输入输出单元、内部互连线路、块RAM、DSP和时钟管理单元,以及其他特殊的功能模块,阐述了主要的FP-GA测试方法并进行简要的比较.通过分析FPGA的典型故障,比如固定型故障、短路故障、开路故障、暂态故障和延迟故障等,归纳了各个模块对应的测试方法,以期能够帮助简化FPGA测试工作,提高FPGA测试效率.
文献关键词：
可编程逻辑阵列;内部结构;故障类型;测试方法
中图分类号：
作者姓名：
贺云;肖梦燕;唐锐
作者机构：
工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 511370
文献出处：
引用格式：
[1]贺云;肖梦燕;唐锐-.FPGA内部资源测试探讨)[J].电子产品可靠性与环境试验,2022(01):36-41
A类：
B类：
FPGA,内部资源,试探,点将,可配置,配置逻辑,输入输出,互连,连线,RAM,DSP,时钟,管理单元,功能模块,典型故障,短路故障,开路故障,暂态,测试工作,测试效率,可编程逻辑阵列,故障类型
AB值：
0.482301
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